《高速电路设计实践》王剑宇

对于高速电路的初学者而言，

即使拥有很好的理论知识，

但在实际项目面前，

却往往感觉无从入手。

今日为大家推荐一本颇受好评的工具书——

《高速电路设计实践》

在工作实践中，你可以把它放在手边随时查阅！

这本书由拥有多年高速电路设计开发工作经验的一线工程师编写，

最大的特色是完全根源于设计实践，

基本不对复杂理论和公式进行讨论，

而是从实际工作的需要出发，

将设计中所需要考虑的要点配合案例，

进行深入浅出地分析。

内容简介

本书从设计实践的角度出发，介绍了高速电路设计的工作中需要掌握的各项技术及技能，并结合工作中的具体案例，强化了设计中的各项要点。在本书的编写过程中，作者避免了纯理论的讲述，而是结合设计实例叙述经验，将复杂的高速电路设计，用通俗易懂的语言陈述给读者。

亮点

✨200+项高速电路设计要点总结

✨60+个参考性强的经典案例呈现

✨围绕设计经验对实际工作常用器件进行讲解

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第1章概述 11．1 低速设计和高速设计的例子 1【案例1-1】简化的存储电路模块 11．1．1 低速设计 11．1．2 高速设计 21．2 如何区分高速和低速 31．3 硬件设计流程 51．3．1 需求分析 61．3．2 概要设计 71．3．3 详细设计 71．3．4 调试 91．3．5 测试 91．3．6 转产 101．4 原理图设计 11第2章高速电路中的电阻、电容、电感和磁珠的选型及应用 132．1 电阻的应用 132．1．1 与电阻相关的经典案例 13【案例2-1】串联电阻过大，导致板间告警失败 13【案例2-2】电阻额定功率不够造成的单板潜在缺陷 14【案例2-3】电阻在时序设计中的妙用 152．1．2 电阻应用要点 162．2 电容的选型及应用 172．2．1 与电容相关的经典案例 17【案例2-4】电容失效导致低温下硬盘停止工作 17【案例2-5】多次带电插拔子板导致母板上钽电容损坏 18【案例2-6】高速电路中电容应用问题导致CPU工作不稳定 182．2．2 高速电路设计中电容的作用及分析 19【案例2-7】交流耦合电容选择不当引起数据帧出错 20【案例2-8】利用0612封装的电容增强滤波性能 21【案例2-9】 LDO电源应用中的滤波电容ESR问题 22【案例2-10】高频电路中1?F +0．01?F是否能展宽低阻抗频带 242．2．3 高速电路设计常用电容及其应用要点 26【案例2-11】陶瓷电容选型错误导致单板丢数据包 27【案例2-12】根据电路要求进行钽电容选型 292．2．4 去耦电容和旁路电容 312．3 电感的选型及应用 322．3．1 与电感相关的经典案例 32【案例2-13】 LC低通滤波导致输出电源电压纹波偏大 32【案例2-14】大电流通路PI型滤波造成电压衰减 332．3．2 高速电路设计中电感的作用 352．3．3 高速电路设计常用电感及其应用要点 362．4 磁珠的选型及应用 392．4．1 磁珠的滤波机理 392．4．2 高速电路设计中磁珠的选型及其应用要点 40【案例2-15】误用磁珠造成过流保护电路失效 412．4．3 磁珠和电感的比较 42第3章高速电路中的逻辑器件选型及高速逻辑电平应用 443．1 与逻辑器件相关的经典案例 44【案例3-1】逻辑器件输入端上拉太弱造成带电插拔监测功能失效 443．2 逻辑器件应用要点 473．2．1 逻辑器件概要 47【案例3-2】逻辑器件驱动能力过强造成信号振铃 51【案例3-3】同一型号逻辑器件的差异性造成PHY配置错误 513．2．2 逻辑器件参数介绍 523．2．3 逻辑器件功耗计算 603．2．4 逻辑器件热插拔功能介绍 623．2．5 逻辑器件使用中注意事项的总结 683．3 高速逻辑电平应用 683．3．1 高速逻辑电平概述 68【案例3-4】差分对走线附近信号分布不均衡造成电磁辐射 703．3．2 LVDS逻辑电平介绍及其应用要点 71【案例3-5】空闲输入引脚处理有误导致FPGA检测到错误输入 733．3．3 LVPECL逻辑电平介绍及其应用要点 753．3．4 CML逻辑电平介绍及其应用要点 773．3．5 高速逻辑电平的比较 783．3．6 高速逻辑电平的互连及其应用要点 78第4章高速电路中的电源设计 874．1 与电源相关的经典案例 87【案例4-1】 LDO输出电源电平低于设置值 87【案例4-2】电源芯片欠压保护电路导致上电时序不满足设计的要求 88【案例4-3】多电源模块并联工作时的均压措施 894．2 高速电路设计的电源架构 904．2．1 集中式电源架构 904．2．2 分布式电源架构 904．3 高速电路电源分类及其应用要点 914．3．1 LDO电源介绍及其应用要点 92【案例4-4】计算LDO工作时的结温 95【案例4-5】 SENSE功能导致电源芯片输出电压不稳定 974．3．2 DC/DC电源介绍及其应用要点 100【案例4-6】计算栅极电流 105【案例4-7】 MOSFET同时导通导致MOSFET损坏 108【案例4-8】 ?48V缓启电路中MOSFET烧坏 111【案例4-9】基于ADM1066对多路电源实现监控 114【案例4-10】基于LTC1422实现上电速度的控制 115【案例4-11】基于电源芯片实现上电速度的控制 115【案例4-12】基于RC阻容电路实现延时功能 116【案例4-13】上电电流过大引起电感啸叫 116【案例4-14】输入电源上电过缓造成输出电源上电波形不单调 1174．3．3 电源管理 1244．3．4 保险管的选型及应用 124【案例4-15】热插拔单板的保险管选型 126第5章高速电路中的时序设计 1275．1 时序设计概述 1275．2 时序参数介绍 1275．3 源同步系统时序设计 1295．3．1 源同步系统时序设计原理 1295．3．2 源同步系统时序设计范例一 1315．3．3 源同步系统时序设计范例二 1345．4 共同时钟系统时序设计 1365．5 源同步系统与共同时钟系统的比较 137第6章高速电路中的复位、时钟设计 1396．1 复位电路设计 1396．1．1 与复位电路相关的经典案例 139【案例6-1】主控板无法通过PCI-X总线查询到接口板 1396．1．2 复位设计介绍及其应用要点 141【案例6-2】存储模块读取的错误 1416．1．3 专用复位芯片的使用 1426．2 时钟电路设计 1456．2．1 与时钟电路相关的经典案例 145【案例6-3】系统时钟偏快的问题 145【案例6-4】 PHY寄存器无法读取的问题 147【案例6-5】高温流量测试丢包问题 1486．2．2 晶体、晶振介绍及其应用要点 150【案例6-6】利用首个时钟沿启动组合逻辑导致CPU工作不稳定 1536．2．3 锁相环及其应用 157【案例6-7】两级锁相环的应用导致MPC8280的PCI时钟失锁 1626．2．4 时钟抖动与相位噪声 164第7章高速电路中的存储器应用与设计 1727．1 与存储器相关的经典案例 172【案例7-1】时序裕量不足导致存储器测试出错 1727．2 常用存储器介绍及其应用要点 1747．2．1 存储器概述 1747．2．2 SDRAM介绍及其应用要点 1767．2．3 DDR SDRAM介绍及其应用要点 188【案例7-2】 DLL缺陷造成DDR SDRAM时序出错 192【案例7-3】 VREF不稳定造成存储器读写操作出错 1987．2．4 DDR2 SDRAM介绍及其应用要点 203【案例7-4】 CPU存储系统不识别8位内存条的问题 2117．2．5 SRAM介绍及其应用要点 212【案例7-5】片选处理不当导致SRAM数据丢失 2147．2．6 FLASH与EEPROM介绍 227【案例7-6】热插拔导致单板FLASH损坏 227【案例7-7】读取百兆光模块信息出错 231第8章高速电路中的PCB及其完整性设计 2328．1 与PCB及完整性设计相关的经典案例 232【案例8-1】回流路径缺陷对高速信号质量的影响 2328．2 PCB层叠结构与阻抗计算 2348．2．1 Core和PP 2348．2．2 PCB的层叠结构和阻抗设计 2348．3 高速电路PCB设计要点 2418．3．1 PCB设计与信号完整性 241【案例8-2】传输线的判断 241【案例8-3】反射的计算 242【案例8-4】 DDR SDRAM设计时，终端电阻RTT布放位置的选择 244【案例8-5】大驱动电流信号对高速数据信号的串扰 250【案例8-6】高速接口器件批次更换造成辐射超标 252【案例8-7】 TCK信号出现回沟导致无法通过JTAG接口对CPLD进行加载 2568．3．2 PCB设计与电源完整性 2578．3．3 PCB设计中的EMC 260【案例8-8】网口指示灯信号线引发的辐射问题 264【案例8-9】接口芯片与时钟驱动器共用电源，导致辐射超标 2668．3．4 PCB设计中的ESD防护 267【案例8-10】 TVS管布放位置不合理导致静电放电测试失败 268【案例8-11】 GND和HV_GND混用导致电源控制电路失效 2708．3．5 PCB设计与结构、易用性 272【案例8-12】网口指示灯排列顺序出错 273【案例8-13】网口连接器堆叠方式与易插拔特性 2738．3．6 PCB设计与散热 2748．3．7 PCB设计与可测试性 275参考文献 279

网友评价

接地气很实用深入浅出

内容详实案例丰富很有参考价值