在芯片的失效分析中，有很多时候在板是故障的，但是拆下来后测试单体却又是正常的，导致这种现象主要有两种可能：

1）芯片的故障不稳定，典型案例如键合缺陷（典型案例可见早期文章《故障“不复现”的时钟芯片失效分析》）

2）板上时序存在问题，导致芯片功能异常

本文将对针对第2种情况，找一个典型案例进行剖析分享。

问题背景：某板卡LDO故障，设计输出0.8V，实际输出1.3V，故障率20%

核对原理图设计未见明显异常，将芯片拆下后进行分析，IV测试和bench测试均未见明显异常，bench测试与良品表现一样

单体分析结论：芯片“大概率”是良品，因此返回到板级分析。

断开LDO后级负载，故障现象未消失；查看器件规格书对EN和Vin上电时序有要求，该板设计EN管脚不是直连Vin，怀疑可能LDO的上电时序存在问题。

时序确认：对板卡LDO上电时序进行测试，确认时序存在问题。

改善：通过飞线方式，将EN直连Vin，“故障”芯片恢复正常，确认为板卡设计问题导致芯片异常。

拓展：

1）在进行板级设计时，需要考虑芯片上电时序，此类问题在我的印象中是仅次于EOS的类型，且此类问题分析需要跨专业域协同，耗时耗力。

2）查看TI官网，发现3A的的LDO有两个版本，另一个就对芯片上电时序没有要求。

TPS7A84A上电时序要求：

总结：失效分析作为一门专业性极强的学科，拥有着典型且具有显著规范性的失效分析流程与方法。但是，在实际的操作过程之中，绝对不能不加思索、盲目地去生搬硬套既定的分析流程，而是应当紧密地结合具体的实际状况，展开全面且深入的分析以及富有逻辑性的思考。就拿同样都是故障不复现的问题来说，在到底应当如何去制定下一步的分析思路这一关键方面，不同的案例彼此之间是存在着巨大且完全不同的差异的。

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