叠层芯片粘接强度与剪切强度试验研究王世楠 万永康 闫辰侃 张凯虹 虞勇坚(中国电子科技集团公司第五十八研究所)摘要:为解
8D问题解决法是一种针对产品质量问题、缺陷和客户投诉的系统性解决方法。1️⃣D0: 准备 - 组建一个经验丰富的团队来处
晶圆缺陷的种类及处理方法研究郭帝江 常志(中国电子科技集团公司第二研究所)摘要:人工参与的集成电路制造过程,不可避免地会
电子封装超声互连研究新进展甘贵生 马勇冲 马鹏 江兆琪 李方樑 李乐奇 程大勇 徐向涛 夏大权( 重庆理工大学重庆特种焊
第三代半导体氮化镓材料单晶制备技术及应用前景朱曦 黎晓华 贺威 李煜 朱德亮 曹培江 柳文 姚蕾 韩舜 曾玉祥 吕有明
楔焊和金丝球键合参数对键合拉力的影响袁羽辉 刘杰 付志凯(华北光电技术研究所 空装驻北京地区第七军事代表室)摘要:以实际
键合参数对电镀金键合性能的影响王世春 沈若尧 任长友 张欣桐 武帅 邓川 王彤 郭可升 刘宏 郝志峰(季华实验室 深圳市
背景介绍某型号单板经过几次插拔后出现了IO引脚及SADOUT引脚对地短路失效的现象。下文对失效芯片和正常芯片进行分析,查
使用晶圆级键合技术制备金属微结构廖承举 张剑 卢茜 彭挺 林玉敏 赵明(中国电子科技集团公司第二十九研究所)摘要:使用金
一个晶圆要经历三次的变化过程,才能成为一个真正的半导体芯片:首先,是将块儿状的铸锭切成晶圆;在第二道工序中,通过前道工序
集成电路异构集成封装技术进展陈祎 岳琨 吕复强 姚大平(江苏中科智芯集成科技有限公司 中国矿业大学材料与物理学院)摘要:
铜片夹扣键合QFN 功率器件封装技术霍炎 吴建忠(上海交通大学 无锡华润安盛科技有限公司)摘要:铜片夹扣键合工艺是一种替
自动光学检测技术在引线键合中的应用崔洪波 孟祥毅 吴峰 方健(中国电子科技集团公司第五十五研究所)摘要:微电子产品内部结
引线键合弹坑试验方法和可靠性研究周金成 李习周天水七四九电子有限公司摘要:本文分析了集成电路封装引线键合工艺中弹坑的危害
微波等离子处理对导电胶可靠性的影响陈婷 周伟洁 王涛(无锡中微高科电子有限公司)摘要:研究了微波等离子工艺影响导电胶形貌
半导体封装Cu-Cu互连接头烧结性能研究吴松 张昱 曹萍 杨冠南 黄光汉 崔成强(广东工业大学省部共建精密电子制造技术与
集成电路的互连线材料及其发展陈 君 侯 倩 廉得亮(深圳大学信息工程学院)摘 要:集成电路(Integrated Cir
预镀框架铜线键合的腐蚀失效分析与可靠性林娜 吴凌 郑怡(深圳赛意法微电子有限公司)摘要集成电路预镀框架铜线键合封装在实际
签名:感谢大家的关注